Национальные ресурсы / Отчеты о НИР

Спектроскопические исследования механизмов образования точечных дефектов и их микроструктуры в ионно-диэлектрических системах при изменении симметрии решетки

Руководитель проекта: К.Ш.Шункеев
Исполнители проекта: Е.Т.Сармуханов
Организация: Актоб. гос. ун-т им. К. Жубанова
Инвентарный номер: 0202РК01013
Регистрационный номер: 0100РК00477
Ключевые слова: Ионные кристаллы, Экситоны, Кристаллические решетки, Щелочно-галоидные кристаллы, Дефекты кристаллических структур,