Была исследована кинетика спекания образцов электролитных материалов Zr0.84Y0.16O2-δ (YSZ), Zr0.81Sc0.19O2-δ (ScSZ) и Ce0.73Gd0.27O2-δ (GDC) спрессованных как из исходных наноразмерных порошков, так и из порошков, отожжённых при различных температурах (900-1200°С). Показано, что огрубление частиц электролитных материалов сдвигает начало их спекания в высокотемпературную область, но практически не сказывается на скорости усадки. Из выбранных материалов были отлиты полимер-керамические пленки и отработана методика формирования микротрубчатых образцов несущий анод-электролит (полуэлементов) путем намотки функциональных пленок с обеспечением нужной последовательности и требуемых толщин слоев, прессованием в изостате и совместным спеканием. Исследование характеристик МТ-ТОТЭ показало, что образцы характеризуются высоким внутренним сопротивлением и, следовательно, невысокой удельной мощностью. Исследование микротрубчатых элементов методом импедансной спектроскопии показало, что основной причиной невысоких характеристик, изготовленных МТ-ТОТЭ является поляризационное сопротивление анода.