1) При характеризации матрицы и примесей с помощью ФЛ, ЭПР , РС и ИК исходных кристаллов MgAl2O4. Различной ориентации производства Crystals (Germany) обнаружены примеси ионов Mn2+ и Cr3+. 2) Исследована зависимость от дозы ФЛ, возбуждаемой в приповерхностном слое в стандартной и конфокальной геометрии. Кристаллы MgAl2O4 облучались БТИ Kr , Xe и Bi в диапазоне флюенсов от 1010 до 1013 см-2 при комнатной температуре на циклотронах ИЦ-100 (Kr, Xe) и У-400 (Bi) ЛЯР ОИЯИ, Дубна. и ускорителе ДЦ-60 (Kr, Xe), Астана.. 3) Впервые показано прямое влияние на ФЛ присутствие треков, что наблюдалось при исследовании образцов, облучённых ионами Bi до флюенса 1012 см-2, когда максимумы спектров ФЛ и ИФЛ измеренные по глубине облученного слоя с ростом ядерных потерь энергии сдвигались в длинноволновую область. 4) Термический отжиг СП для образцов MgAl2O4. облученных при комнатной температуре ионами 220 МэВ 1Xe в интервале от 295 К до 1600 K, свидетельствуют о прямой корреляции между одиночными центрами F-типа и радиационными D1-дефектами, содержащие кислородные вакансии, по аналогии с MgO. 5) Изучена ИЛ MgAl2O4 в процессе облучения167МэВ Xe при 80 К,. Установлено, что спектральный состав высокоэнергетической ИЛ шпинели формируется за счет излучения трехвалентной примеси хрома в диапазоне 680–740 нм. ИЛ, связанная с другими примесями, или образующимися радиационными дефектами, не была зарегистрирована.