Отмечена зависимость изменения коэффициентов отражения от типа подложки (диэлектрической проницаемости). Выбрана соответствующая среда CAD моделирования. Проведены моделирования самоподобных и самоаффинных фракталов. Показано, что вторая и третья итерации анизотропного фрактала и известных классических фракталов имеют свойства широкополосности.
