Цель: оценка "мощности", т.е. величины и протяженности созданного им внутрикристаллического поля; определение концентрации и закономерностей распределения дефектов по обьему кристалла. Комбинация методов ядерного магнитного резонанса и электронной микроскопии использована впервые в мировой практике, что обусловило новизну полученных результатов.
