Цель Проекта - совершенствование методов электронной микроскопии и времяпролетной масс - спектрометрии путем учета влияния релятивистских эффектов на качество пространственной и времяпролетной фокусировки электронных и ионных пучков в электростатических зеркалах и эмиссионных системах.