Проведено компьютерное моделирование процессов накопления точечных дефектов и их комплексов в материалах электронной техники, полученных методами кинетического описания, крупных частиц и молекулярной динамики. Проведено численное моделирование процессов дефектообразования в резистивных материалах, ферритах и бинарных сплавах, подвергнутых воздействию радиации.*
