Исследование физических процессов формирования нанообъектов и наноструктур на поверхности и границах раздела различных материалов для создания приборных структур широкого диапазона применений
Исследована корреляция оптических свойств и количества периодов сверхрешеток полупроводниковых наноструктур. Показано низкочастотное смещение линий фононов LO и ТО, обусловленное квантово-размерными дефектами.
