Исследованы оптические и электрические свойства наноразмерных пленок сложных полупроводниковых соединений. Проанализирована структура электростатических квадрупольно-цилиндрических полей. Обнаружены образование скрытых пор в объеме образца кремния при сохранении монокристалличности поверхностного слоя и новый тип пористости кремния при его травлении в электролите. Островки кристаллитов разделены между собой лабиринтом кремниевых выступов, что представляет зеркальное отражение обычного пористого кремния.